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納伏表光示波器光功率計(jì)探頭函數(shù)任意波形發(fā)生器無(wú)線綜合測(cè)試儀精密LCR表動(dòng)態(tài)分析儀噪聲系數(shù)測(cè)試儀 LCR電橋頻率計(jì) 函數(shù)波形發(fā)生器半導(dǎo)體分析儀靜電計(jì) 功率探頭點(diǎn)擊噪聲源點(diǎn)擊數(shù)字功率計(jì) 點(diǎn)擊信號(hào)源分析儀點(diǎn)擊光波長(zhǎng)計(jì) 點(diǎn)擊功率傳感器點(diǎn)擊波形信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)擊阻抗分析儀點(diǎn)擊可調(diào)激光源點(diǎn)擊電源點(diǎn)擊信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)擊數(shù)據(jù)采集器/模塊卡點(diǎn)擊頻譜分析儀點(diǎn)擊噪聲系數(shù)分析儀點(diǎn)擊數(shù)據(jù)采集儀點(diǎn)擊接收機(jī) 點(diǎn)擊光模塊點(diǎn)擊網(wǎng)絡(luò)校準(zhǔn)件點(diǎn)擊網(wǎng)絡(luò)分析儀點(diǎn)擊數(shù)字萬(wàn)用表點(diǎn)擊示波器點(diǎn)擊音頻分析儀相位噪聲測(cè)試儀

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安捷倫E8356A網(wǎng)絡(luò)分析儀帶測(cè)試線

安捷倫E8356A網(wǎng)絡(luò)分析儀帶測(cè)試線 E8356A為夾具中和硅片上器件提供TRL/LRM校準(zhǔn)（使用四接收器），對(duì)有源器件提供標(biāo)準(zhǔn)T偏置，以及為擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍提供標(biāo)準(zhǔn)直接接收器。強(qiáng)大的自動(dòng)化和自助工具使儀器能很好適應(yīng)研制開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)制造的需要。PNA系列有16個(gè)獨(dú)立測(cè)量通道，內(nèi)裝的硬盤，并提供鼠標(biāo)。

更新時(shí)間：2025-03-03

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租售安捷倫86116C光/電模塊

Keysight 86116C 高速光探頭憑借其的測(cè)量能力、廣泛的兼容性以及堅(jiān)固的設(shè)計(jì)，已成為科研、工程及工業(yè)領(lǐng)域的理想選擇。如果您對(duì)光信號(hào)測(cè)量有高精度要求，86116C 無(wú)疑是您測(cè)試平臺(tái)的重要組成部分.

更新時(shí)間：2025-03-03

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安捷倫租售1134A有源探頭

Keysight 1134A InfiniiMax 7GHz探頭放大器用于高速差分或單端探測(cè)，是6GHz帶寬示波器的補(bǔ)充。具有低輸入電容、平坦頻率響應(yīng)和電阻探針技術(shù)，提供低DUT負(fù)載和高信號(hào)保真度。安捷倫租售1134A有源探頭安捷倫租售1134A有源探頭安捷倫租售1134A有源探頭

更新時(shí)間：2025-03-03

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租售羅德與施瓦茨ESCI7接收機(jī)

羅德與施瓦茨ESCI7是一款適用于電磁兼容性測(cè)試的儀器，適用于所有商業(yè)EMI標(biāo)準(zhǔn)。? 該儀器具有廣泛的頻率范圍（9 kHz至7 GHz），支持多種檢測(cè)器同時(shí)使用，包括峰值、準(zhǔn)峰值、均方根和CISPR平均檢測(cè)器，此外，還需要設(shè)置適當(dāng)?shù)念A(yù)選濾波器和前置放大器，以確保優(yōu)良的測(cè)量精度和動(dòng)態(tài)范圍?34

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安捷倫8722ES網(wǎng)絡(luò)分析儀配測(cè)試線

Agilent8722ES40G等網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻率50MHz-40GHz，功率-75～+5dBm，動(dòng)態(tài)范圍80～100dB，含PC連通性軟件Intuilink，提供測(cè)量精度和自動(dòng)化控制，可選時(shí)域、高功率測(cè)試等功能。安捷倫8722ES網(wǎng)絡(luò)分析儀配測(cè)試線安捷倫8722ES網(wǎng)絡(luò)分析儀配測(cè)試線安捷倫8722ES網(wǎng)絡(luò)分析儀配測(cè)試線

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二手美國(guó)安捷倫4294A阻抗分析儀

寬頻率范圍：4294A可以在40 Hz到110 MHz的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，可以適用于不同頻率范圍內(nèi)的測(cè)試應(yīng)用。高精度：4294A的測(cè)試精度高，可以達(dá)到0.08%的基本精度和0.01度的相位分辨率，可以滿足精密電路元件和材料的測(cè)試需求。多種測(cè)試模式：4294A提供多種測(cè)試模式，包括簡(jiǎn)單諧振模式、連續(xù)掃描模式和多頻掃描模式等，可以滿足不同測(cè)試要求的應(yīng)用。

更新時(shí)間：2025-03-03

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